Neste quarto volume da série, continuaremos a ensinar como testar componentes da família dos semicondutores que não foram vistos no volume anterior.Estes dispositivos semicondutores, como os demais, são os elementos básicos de todos os equipamentos eletrônicos modernos.
O teste de tais componentes ou mesmo circuitos oferece um enorme desafio ao profissional da eletrônica.Em alguns casos procedimentos muitos simples podem revelar muito sobre o estado de tais componentes. No entanto, existem casos, em que os dispositivos testados são tão complexos que se torna impossível dizer alguma coisa sobre seu estado com um teste simples.Para esses casos pode-se utilizar procedimentos que envolvam a montagem de circuitos de simulação ou ainda a realização de diversas medidas, que possam dar um quadro geral do que ocorre com o dispositivo. Indo além, podemos contar com a ajuda do osciloscópio para levantar as curvas características de tais componentes em que, muito além de um simples teste, teremos informações importantes sobre seu estado e o modo de usá-lo.Neste volume focalizaremos os principais testes que podem ser realizados com esses componentes semicondutores usando desde simples provador de continuidade ou multímetro até recursos mais elaborados que envolvam o uso de instrumentos sofisticados como geradores de funções, osciloscópios e outros.
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